2005年9月13日
Unified Roughness Scattering Model Incorporating Scattering Component Induced by Thickness Fluctuation in SOI MOSFETs
Extended abstracts of the ... Conference on Solid State Devices and Materials
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- 巻
- 2005
- 号
- 開始ページ
- 42
- 終了ページ
- 43
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/10022540905
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA10777858
- ID情報
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- CiNii Articles ID : 10022540905
- CiNii Books ID : AA10777858