講演・口頭発表等

2013年10月

放射光を利用した表面分析相談

第56回表面科学基礎講座; 表面・界面分析の基礎と応用
  • 吉井 賢資
  • ,
  • 寺岡 有殿

記述言語
日本語
会議種別
開催地
吹田

日本表面科学会関西支部の主催する表面科学基礎講座の一環として、放射光を利用した表面分析についての相談に応じる。主に、発表者の属するSPring-8において行われている、表面及び界面を対象とする様々な分析方法の紹介をポスターで行うとともに、参加者を対象に、表面・界面の元素分析等の可能性についての相談に応じる。なお、紹介する分析手法は、光電子分光,光電子回折, X線吸収分光,磁気円二色性等である。