2011年2月28日
ACT-1-3 デジタルアシスト・アナログRFテスト技術 : サブ100nmミックストシグナルSoCテストの考察(ACT-1.サブ100nm時代のCMOSアナログ技術-,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
電子情報通信学会総合大会講演論文集
- ,
- ,
- ,
- 巻
- 2011
- 号
- 2
- 開始ページ
- "SS
- 終了ページ
- 45"-"SS-48"
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 一般社団法人電子情報通信学会
この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.
- リンク情報
-
- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110008512590
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10471452
- ID情報
-
- CiNii Articles ID : 110008512590
- CiNii Books ID : AN10471452