国際会議 2018年11月5日 Modeling of Authors’ Writing Styles to Detect Plagiarism in Japanese Academic Reports The 4th International Conference on Electronics and Software Science, Asako Ohno, Takahiro Yamasaki, Kin-ichiroh Tokiwa, Kazuhide Togai 記述言語 英語 会議種別 口頭発表(一般)