2019年8月
Seebeck coefficients in CuFeS2 thin films by first-principles calculations
Jpn. J. Appl. Phys.
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- 巻
- 58
- 号
- SI
- 開始ページ
- SIIB01
- 終了ページ
- SIIB01
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文(研究会,シンポジウム資料等)
- DOI
- 10.7567/1347-4065/ab147c
- ID情報
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- DOI : 10.7567/1347-4065/ab147c