山末耕平 (Kohei Yamasue) - マイポータル

基本情報

所属: 東北大学電気通信研究所情報デバイス研究部門誘電ナノデバイス研究室誘電ナノ物性計測システム研究分野准教授

学位: 博士（工学）(京都大学)

J-GLOBAL ID: 201101098901108095
researchmap会員ID: 6000028094

外部リンク: http://db.tohoku.ac.jp/whois/detail/6c27c4dcfdf6326608d4c33da0bd27ac.html

研究分野

経歴

2016年7月 - 現在

東北大学, 電気通信研究所, 准教授
2010年4月 - 2016年6月

東北大学, 電気通信研究所, 助教
2008年8月 - 2010年3月

京都大学, 大学院工学研究科, 助教
2008年4月 - 2008年7月

京都大学, ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー, 研究員（中核的研究機関）
2007年4月 - 2008年3月

京都大学, ベンチャー・ビジネス・ラボラトリー, 講師（中核的研究機関研究員）

学歴

2002年4月 - 2007年3月

京都大学, 工学研究科, 電気工学専攻
1998年4月 - 2002年3月

京都大学, 工学部, 電気電子工学科

委員歴

2024年6月

電子情報通信学会, 東北支部会計幹事
2011年5月 - 2014年5月

電子情報通信学会非線形問題研究専門委員会, 専門委員
2011年5月 - 2014年5月

電子情報通信学会非線形問題研究専門委員会, 専門委員
2012年9月 - 2013年7月

Nonlinear Theory ant Its Applications, The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers, "Special Section on Nonlinear Vibration in Mechanical Systems and Its Control-from Nano to Macro-" Guest Editorial Committee, Secretary
2012年9月 - 2013年7月

Nonlinear Theory ant Its Applications，電子情報通信学会, 「Special Section on Nonlinear Vibration in Mechanical Systems and Its Control-from Nano to Macro-」英文論文小特集編集委員会編集幹事
2009年5月 - 2011年5月

電子情報通信学会非線形問題研究会, 幹事補佐
2009年5月 - 2011年5月

電子情報通信学会非線形問題研究会, 幹事補佐
2008年11月 - 2010年5月

システム制御情報学会第52期および第53期編集委員会, 校正担当委員
2008年11月 - 2010年5月

システム制御情報学会第52期および第53期編集委員会, 校正担当委員
2009年6月 - 2010年3月

財団法人近畿地方発明センターテクノ愛’09 選考委員会, 委員
2009年6月 - 2010年3月

財団法人近畿地方発明センターテクノ愛’09 選考委員会, 委員
2008年5月 - 2009年3月

財団法人近畿地方発明センター, 「テクノ愛’08」に係る事前書類審査員
2008年5月 - 2009年3月

財団法人近畿地方発明センター, 「テクノ愛’08」に係る事前書類審査員
2007年5月 - 2008年3月

財団法人近畿地方発明センター, 「テクノ愛’07」に係る事前書類審査員
2007年5月 - 2008年3月

財団法人近畿地方発明センター, 「テクノ愛’07」に係る事前書類審査員

受賞

2021年11月

石田實記念財団研究奨励賞, 走査型非線形誘電率顕微鏡によるナノ・原子スケール物性評価, 一般財団法人石田實記念財団

山末耕平

論文

Correlation analysis on local capacitance-voltage profiles of a SiO₂/SiC interface observed by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) 2023年3月7日査読有り筆頭著者責任著者
時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による SiO2/SiC の局所容量-電圧特性のナノスケールゆらぎ解析

山末耕平, 長康雄

第42回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2022) 31-35 2022年11月査読有り筆頭著者責任著者
Local capacitance-voltage profiling and deep level transient spectroscopy of SiO2/SiC interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Microelectron. Reliab. 135 114588-114588 2022年8月査読有り筆頭著者責任著者
Microscopic Evaluation of Al₂O₃/p-Type Diamond (111) Interfaces Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Yu Ogata, Kohei Yamasue, Xufang Zhang, Tsubasa Matsumoto, Norio Tokuda, Yasuo Cho

Mater. Sci. Forum 1062 298-303 2022年5月31日査読有り
Surface Potential Fluctuations of SiO₂/SiC Interfaces Investigated by Local Capacitance-Voltage Profiling Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Mater. Sci. Forum 1062 335-340 2022年5月31日査読有り筆頭著者責任著者
Local capacitance-voltage profiling on MoS₂/SiO₂ and MoS₂/h-BN/SiO₂ by scanning nonlinear dielectric microscopy assisted with an insulating tip

Taiyo Ishizuka, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) 2022年3月6日査読有り
Boxcar Averaging Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Nanomaterials 12(5) 794-1-794-19 2022年2月26日査読有り筆頭著者責任著者
Local capacitance-voltage profiling and high voltage stress effect study of SiO₂/SiC structures by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy

K. Yamasue, Y. Cho

Microelectron. Reliab. 126 114284-1-114284-6 2021年11月査読有り筆頭著者責任著者
Nanoscale capacitance-voltage profiling of DC bias induced stress on a high-κ/SiO2/Si gate stack

Koharu Suzuki, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Microelectron. Reliabi. 126 114278-1-114278-5 2021年11月査読有り
Simultaneous Interface Defect Density and Differential Capacitance Imaging by Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

International Symposium for Testing and Failure Analysis 441-445 2021年10月31日査読有り筆頭著者責任著者
Local Capacitance-Voltage Profiling and Deep Level Transient Spectroscopy of SiO₂/SiC Interfaces by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

2021 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) 1-6 2021年9月15日査読有り筆頭著者責任著者
Profiling of carriers in a 3D flash memory cell with nanometer-level resolution using scanning nonlinear dielectric microscopy

Jun Hirota, Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Microelectron. Reliab. 114 113774-113774 2020年11月査読有り
Spatial scale dependent impact of non-uniform interface defect distribution on field effect mobility in SiC MOSFETs

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Microelectron. Reliab. 114 113829-113829 2020年11月査読有り筆頭著者
Nanoscale characterization of unintentional doping of atomically thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

J. Appl. Phys. 128(7) 074301-074301 2020年8月21日査読有り筆頭著者責任著者
Atomic Resolution Studies on Surface Dipoles by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy and Potentiometry

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

2020 Joint Conference of the IEEE International Frequency Control Symposium and International Symposium on Applications of Ferroelectrics (IFCS-ISAF) 2020年7月査読有り招待有り筆頭著者責任著者
Influence of Non-Uniform Interface Defect Clustering on Field-Effect Mobility in SiC MOSFETs Investigated by Local Deep Level Transient Spectroscopy and Device Simulation

Kohei Yamasue, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

Mater. Sci. Forum 1004 627-634 2020年7月査読有り筆頭著者責任著者
時間分解・局所DLTS 法を用いたマクロステップを有する SiO₂/SiC の界面準位密度分布評価

保坂杏奈, 山末耕平, Judith Woerle, Corrado Bongiorno, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 75-79 2019年11月査読有り
間欠接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた半導体キャリア分布観察における信号雑音比の改善

山末耕平, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 130-134 2019年11月査読有り筆頭著者責任著者
走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付き探針の開発と層状半導体評価への応用

高野幸喜, 山末耕平, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 135-140 2019年11月査読有り
Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS₂ observed by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

Proceedings from the 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis 498-503 2019年11月査読有り筆頭著者

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書籍等出版物

Nonlinear Dynamics of Nanosystems

YAMASUE Kohei, HIKIHARA Takashi (担当:共著, 範囲:Part III Nanoelectromechanics, Chapter 9 Nonlinear Dynamics in Atomic Force Microscopy and Its Control for Nanoparticle Manipulation, 267-286)

Wiley-VCH 2010年4月 (ISBN: 9783527407910)
Handbook of Chaos Control Second completely revised and enlarged edition

HIKIHARA Takashi, YAMASUE Kohei (担当:共著, 範囲:Part IX: Application to Engineering, Chapter 36. Transient Dynamics of Duffing System Under Time-Delayed Feedback Control; Global Phase Structure and Application to Engineering, 793-809)

Wiley-VCH 2007年12月 (ISBN: 9783527406050)

講演・口頭発表等

走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO2上機械剥離MoS2の局所DLTS測定

石塚太陽, 山末耕平

第70回応用物理学会春季学術講演会，上智大学四谷キャンパス+オンライン
Scanning nonlinear dielectric microscopic investigation of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2

Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, Yasuo Cho

2022 MRS Fall Meeting & Exhibit, Boston, Massachusetts, USA
Real-space analysis on surface potential fluctuations of Al2O3/GaN interfaces by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yuto Ando, Manato Deki, Hiroshi Amano, Yasuo Cho

International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2022), Berlin, Germany
Comparative study on carrier distribution of mechanically exfoliated WSe2/SiO2 and suspended WSe2 by scanning nonlinear dielectric microscopy

Koki Takano, Kohei Yamasue, Toshiaki Kato, Toshiro Kaneko, Yasuo Cho

The 22nd International Vacuum Congress (IVC-22), Sapporo Convention Center, Sapporo, Japan
走査型非線形誘電率顕微鏡の原理と半導体ナノスケール物性評価への応用

山末耕平

電気化学会電子材料委員会第86回半導体・集積回路技術シンポジウム 2022年8月31日招待有り
時間分解SNDMを用いた半導体のナノスケール評価に関する最近の展開

山末耕平

東京大学物性研究所短期研究会「機能的走査プローブ顕微鏡の新展開」 2022年3月30日招待有り
時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡による直流バイアスストレス印加時のhigh-κ/SiO₂/Siにおける局所容量-電圧特性測定

鈴木小春, 山末耕平, 長康雄

第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) 2021年10月27日
時間分解SNDMを用いたダイヤモンドMOS界面の界面準位密度評価に関する検討

尾形結友, 山末耕平, Zhang Xufang, 松本翼, 徳田規夫, 長康雄

第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) 2021年10月27日
時間分解走査型非線形誘電率顕微鏡によるSiO₂/SiC界面のナノスケールキャリアダイナミクスの可視化

山末耕平, 長康雄

第41回ナノテスティングシンポジウム(NANOTS2021) 2021年10月25日
Nanoscale carrier distribution imaging on atomically-thin layered semiconductors by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

The 4th international symposium on “Elucidation of Property of Next Generation Functional Materials and Surface/Interface" 2019年12月9日招待有り
Unintentional n-type doping on single layer Nb-doped MoS₂ observed by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

2019 MRS fall meeting and exhibit 2019年12月5日
間欠接触走査型非線形誘電率顕微鏡を用いた半導体キャリア分布観察における信号雑音比の改善

山末耕平, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 2019年11月19日
走査型非線形誘電率顕微鏡による半導体キャリア分布観察のための絶縁膜付き探針の開発と層状半導体評価への応用

高野幸喜, 山末耕平, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 2019年11月19日
時間分解・局所DLTS 法を用いたマクロステップを有する SiO₂/SiC の界面準位密度分布評価

保坂杏奈, 山末耕平, Judith Woerle, Corrado Bongiorno, Gabriel Ferro, Ulrike Grossner, Massimo Camarda, 長康雄

第39回ナノテスティングシンポジウム 2019年11月18日
Unintentional doping effects on atomically-thin Nb-doped MoS₂ observed by scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

The 45th International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA2019) 2019年11月13日
Spatially Resolved Defect Mapping of the SiO₂/4H-SiC Interface

Judith Woerle, Brett C. Johnson, Corrado Bongiorno, Kohei Yamasue, Gabriel Ferro, Dipanwita Dutta, Yasuo Cho, Ulrike Grossner, Massimo Camarda

International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019) 2019年10月2日
Influence of non-uniform interface defect distribution on channel mobility in SiC MOSFETs investigated by local deep level transient spectroscopy and device simulation

Kohei Yamasue, Yuji Yamagishi, Yasuo Cho

International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2019 (ICSCRM 2019) 2019年10月1日
Optimization of signal intensity in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

The 30th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2019) 2019年9月25日
Improvement of signal-to-noise ratio in carrier distribution imaging in intermittent contact scanning nonlinear dielectric microscopy based on boxcar integration

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

18th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP XVIII) 2019年9月10日
Surface dipole induced potentials on metals observed by noncontact scanning nonlinear dielectric potentiometry

Kohei Yamasue, Yasuo Cho

The 17th International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces (ICFSI-17) 2019年6月27日

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担当経験のある科目(授業)

所属学協会

共同研究・競争的資金等の研究課題

SNDMを用いた次世代パワーエレクトロニクスの創出に資する革新的評価技術の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(A) 2024年4月 - 2028年3月

山末耕平
走査型非線形誘電率顕微鏡による原子層材料・デバイスのナノ・原子スケール物性評価

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(B) 基盤研究(B) 2020年4月 - 2024年3月

山末耕平
走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたGaN-MOSの高性能化に資する計測評価

文部科学省革新的パワーエレクトロニクス創出基盤技術研究開発事業 2021年8月

長康雄,山末耕平
非線形誘電率顕微鏡法を用いた界面電荷輸送現象における諸問題の起源解明

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(S) 基盤研究(S) 2016年5月 - 2021年3月

長康雄, 平永良臣, 山末耕平
走査型非線形誘電率ポテンショメトリの開発とその電子材料・デバイス評価への応用

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(C) 基盤研究(C) 2015年4月 - 2018年3月

山末耕平
超高次非線形誘電率顕微鏡法を用いたSiC基板材料及びパワーエレクトロニクス素子の高性能化に資する評価技術の開発

NEDO 戦略的イノベーション創造プログラム（SIP）次世代パワーエレクトロニクス 2014年 - 2018年
非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用

日本学術振興会科学研究費助成事業基盤研究(S) 基盤研究(S) 2011年4月 - 2016年3月

長康雄, 山末耕平, 平永良臣
走査型非線形誘電率顕微鏡に基づくナノスケール自発分極定量測定法の開発

公益財団法人島津科学技術振興財団研究開発助成 2016年
走査型非線形誘電率顕微鏡を用いたエネルギーアシスト方式強誘電体記録

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 若手研究(B) 2012年4月 - 2015年3月

山末耕平
共振を利用したナノ・マイクロ機構の操作及び微小エネルギーの収集機構の開発

日本学術振興会科学研究費助成事業挑戦的萌芽研究挑戦的萌芽研究 2009年 - 2011年

引原隆士, 佐藤宣夫, 山末耕平
ダイナミックモード原子間力顕微鏡におけるカンチレバーの非線形振動制御

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究(B) 若手研究(B) 2008年 - 2010年

山末耕平
非線形誘電率顕微鏡を用いた次世代超高密度強誘電体記録

日本学術振興会科学研究費助成事業特別推進研究特別推進研究 2006年 - 2010年

長康雄, 廣瀬龍介, 平永良臣, 金暢大, 山末耕平

山末耕平

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研究分野

経歴

学歴

委員歴

受賞

論文

書籍等出版物

講演・口頭発表等

担当経験のある科目(授業)

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