伊藤 光樹

J-GLOBALへ         更新日: 19/08/07 12:19
 
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研究者氏名
伊藤 光樹
所属
釧路工業高等専門学校
部署
創造工学科 電気工学分野
職名
助教
学位
博士 (工学)(東京農工大学)

研究分野

 
 

学歴

 
 
 - 
2019年3月
東京農工大学大学院 工学府 電子情報工学専攻
 

論文

 
2次元イジング計算機におけるスピン判定論理と演算特性
島田萌絵、伊藤光樹、櫛谷優希、平田鷹介、三木司、白樫淳一
電子情報通信学会技術研究報告   119(34) ED2019-17, 39-42   2019年5月   [査読有り]
Synaptic Behaviors of Electromigrated Au Nanogaps (Editor's Pick)
K. Sakai, T. Sato, S. Tani, M. Ito, M. Yagi and J. Shirakashi
AIP Advances   9(5) 055317   2019年5月   [査読有り]
Single-Electron Tunneling Effects in Electromigrated Coulomb Island between Au Nanogaps
S. Tani, M. Ito, M. Yagi, M. Shimada, K. Sakai, K. Minami and J. Shirakashi
Conference Proceedings, 2018 IEEE 13th Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC)   INSPEC Accession Number 184017 1-4   2019年1月   [査読有り]
Multiple-Junction Single-Electron Charging in Electromigrated Series-Connected Nanogaps Operating at Room Temperature
M. Ito, M. Shimada, M. Yagi and J. Shirakashi
Conference Proceedings, 2018 IEEE 13th Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC)   INSPEC Accession Number 184017 1-4   2019年1月   [査読有り]
Simultaneous Arrayed Formation of Single-Electron Transistors Using Electromigration in Series-Connected Nanogaps
M. Ito, M. Yagi, M. Shimada and J. Shirakashi
AIP Advances   8(10) 105005   2018年10月   [査読有り]

書籍等出版物

 
Nanoelectronic Device Applications Handbook, Chapter 13: Simultaneously Controlled Tuning of Tunneling Properties of Integrated Nanogaps Using Field-Emission-Induced Electromigration, Edited by James E. Morris & Krzysztof Iniewski.
M. Ito, S. Akimoto, R. Suda and J. Shirakashi (担当:共著)
CRC Press, Taylor and Francis Group, LLC.   2013年6月   

講演・口頭発表等

 
Calculation Behavior of 2D Ising Spin Computing with Different Spin Decision Logics [招待有り]
M. Shimada, M. Ito, Y. Hirata, Y. Kushitani, T. Miki and J. Shirakashi
19th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2019), ThPSPP.14, July 22-26, 2019, Macau, China.   2019年7月25日   IEEE
Computational Properties of Ising Spin Model on Spin Connection Parameters [招待有り]
T. Miki, M. Ito, Y. Hirata, Y. Kushitani, M. Shimada and J. Shirakashi
19th IEEE International Conference on Nanotechnology (IEEE NANO 2019), WePSPP.14, July 22-26, 2019, Macau, China.   2019年7月24日   IEEE
Synaptic Learning Behavior of Multiple-Connected Au Nanogaps Using Electromigration [招待有り]
T. Sato, K. Sakai, K. Minami, S. Tani, M. Ito, M. Yagi and J. Shirakashi
3rd International Conference on Applied Surface Science (ICASS 2019), P1.082, June 17-20, 2019, Pisa, Italy.   2019年6月18日   Elsevier
2次元イジング計算機におけるスピン判定論理と演算特性 [招待有り]
島田萌絵、伊藤光樹、櫛谷優希、平田鷹介、三木司、白樫淳一
電子情報通信学会 電子デバイス研究会(ED)「機能性デバイス材料・作製・特性評価および関連技術」、2019年5月16日、静岡   2019年5月16日   電子情報通信学会
論理ゲートイジング計算機におけるビット間結合パラメータの検討 [招待有り]
三木司、伊藤光樹、櫛谷優希、平田鷹介、島田萌絵、白樫淳一
電子情報通信学会 電子デバイス研究会(ED)「機能性デバイス材料・作製・特性評価および関連技術」、2019年5月16日、静岡   2019年5月16日   電子情報通信学会

所属学協会

 
 

その他

 
留学: Institut Néel (Grenoble, France, Host Researcher : Prof. Dr. Vincent Bouchiat)
平成24年4月1日~平成24年9月30日