劉昆洋 (KUNYANG LIU) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 京都大学大学院情報学研究科助教

学位: 博士（工学）(2021年4月早稲田大学)
修士（工学）(2017年9月早稲田大学)
学士（工学）(2015年7月華南理工大学)

連絡先: kunyangi.kyoto-u.ac.jp
ORCID iD: https://orcid.org/0000-0002-9328-7076
J-GLOBAL ID: 202101003341081893
researchmap会員ID: R000019325

研究分野

3

経歴

3

2024年2月 - 現在

京都大学, 大学院情報学研究科, 助教
2021年9月 - 2024年1月

早稲田大学, 情報生産システム研究センター, 助教
2021年4月 - 2021年9月

早稲田大学, 情報生産システム研究センター, 助手

学歴

4

2017年9月 - 2021年4月

早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科, 博士後期課程
2015年9月 - 2017年9月

早稲田大学, 大学院情報生産システム研究科, 博士前期課程
2011年9月 - 2015年7月

華南理工大学, 電子情報学部, 電子情報工学専攻
2008年9月 - 2011年8月

広州市執信中学（高校）, 理科

委員歴

4

2024年7月 - 現在

電子情報通信学会英語論文誌小特集編集委員会, 編集委員
2024年6月 - 現在

情報処理学会論文誌ジャーナル, 編集委員
2024年6月 - 現在

電子情報通信学会集積回路研究専門委員会 (ICD), 専門委員
2024年4月 - 現在

情報処理学会システムとLSIの設計技術研究運営委員会 (SLDM), 運営委員

主要な受賞

8

2026年2月

ISSCC Silkroad Award, A Sub-Threshold All-NMOS Reconfigurable PUF with Secure Configuration for 6-Bits/Cell, 2026 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC)

Shufan Xu, Kunyang Liu, Lando Chan, Hironori Tagawa, Hirofumi Shinohara, Kiichi Niitsu
2025年1月

Best Design Award, ASP-DAC2025, Design of 0.9-2.6pW 0.1-0.25V 22nm 2-bit Supply-to-Digital Converter Using Always-Activated Supply-Controlled Oscillator and Supply-Dependent-Activation Buffers for Bio-Fuel-Cell-Powered-and-Sensed Time-Stamped Bio-Recording, Asia and South Pacific Design Automation Conference

Hiroaki Kitaike, Hironori Tagawa, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Kunyang Liu, Kiichi Niitsu
2023年4月

Best Paper Award, VLSI-DAT 2022, A 0.116pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator with Static Inverter Selection and Noise Enhancement, DAT Best Paper Award Committee

Xingyu Wang, Ruilin Zhang, Yuxin Wang, Kunyang Liu, Xuanzhen Wang, Hirofumi Shinohara
2021年2月

Excellent Student Award, A 373-F² 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function With 2-D Power-Gated Bit Cells and V_SS Bias-Based Dark-Bit Detection, IEEE Fukuoka Section

Kunyang Liu
2018年11月

Student Travel Grant Award, A 373 F² 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark-Bit Detection Technique, IEEE Solid-State Circuits Society

Kunyang Liu

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主要な論文

38

A Physically Unclonable Function With Less Than 4.16E--7 BER Featuring Secure In-Cell HCI Burn-In and nMOS-Dominant PUF Data Generation

Kunyang Liu, Zihan Fu, Gen Li, Hongliang Pu, Zhibo Guan, Xingyu Wang, Shufan Xu, Kiichi Niitsu, Hirofumi Shinohara

IEEE Journal of Solid-State Circuits 61(8) 4385-4398 2026年8月査読有り筆頭著者責任著者
An 83-F² 2T PUF Featuring Isolated Hot-Carrier Injection and Lightweight Majority-Voting-Based Strong PUF Mode

Zhenzhe Chen, Kunyang Liu, Weirong Dong, Quan Cheng, Jiamin Li, Longyang Lin, Takashi Sato

2026 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 1-4 2026年4月査読有り
A Sub-Threshold All-NMOS Reconfigurable PUF with Secure Configuration Selection for Stable 6b/Cell

Shufan Xu, Kunyang Liu, Lando Chan, Hironori Tagawa, Hirofumi Shinohara, Kiichi Niitsu

2026 IEEE International Solid-State Circuits Conference (ISSCC) 438-439 2026年2月15日査読有り責任著者
A 236-nW LFSR-Based Asymmetric Clonable PUF Group With Peer-to-Peer Response Equivalence

Zhenzhe Chen, Weirong Dong, Kunyang Liu, Quan Cheng, Hirofumi Shinohara, Takashi Sato

IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Regular Papers 1-14 2026年査読有り
A Less than 6.5E-8 BER 36-Way Reconfigurable PUF with 4-bit Stable Responses per Cell Featuring Machine Learning-Based Best-Configuration Selection

Shufan Xu, Kunyang Liu, Nan Wang, Hirofumi Shinohara, Kiichi Niitsu

2025 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference (A-SSCC) 103-105 2025年11月2日査読有り責任著者
Design and Experimental Verification of 0.9-2.6pW 0.1-0.25V 22nm 2-bit Supply-to-Digital Converter Using Always-Activated Supply-Controlled Oscillator and Supply-Dependent-Activation Buffers for Bio-Fuel-Cell-Powered-and-Sensed Time-Stamped Bio-Recording

Hiroaki Kitaike, Hironori Tagawa, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Kunyang Liu, Kiichi Niitsu

IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs 72(11) 1575-1579 2025年11月査読有り
A 65-nm CMOS Downconverter-Less Clock Generator Architecture Using Voltage Stacking of Oscillator and Frequency Dividers for Scaling-Friendly IoTs

You Wu, Kei Awano, Kento Okamura, Teruaki Ono, Kohei Sakamoto, Hiroaki Kitaike, Hironori Tagawa, Jin Nakamura, Masaya Kaneko, Yuta Kimura …

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 33(10) 2668-2679 2025年10月査読有り
Statistical Model and Transistor Size Effect of Hot Carrier Injection for Stability Reinforced SRAM Physically Unclonable Function

Shufan Xu, Kunyang Liu, Kiichi Niitsu, Hirofumi Shinohara

IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 25(3) 481-491 2025年9月査読有り
A 0.9-2.6pW 0.1-0.25V 22nm 2-bit Supply-to-Digital Converter Using Always-Activated Supply-Controlled Oscillator and Supply-Dependent-Activation Buffers for Bio-Fuel-Cell-Powered-and-Sensed Time-Stamped Bio-Recording

Hiroaki Kitaike, Masaharu Inada, Mitsuru Terauchi, Hironori Tagawa, Ryosuke Nagai, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Kunyang Liu, Kiichi Niitsu

2024 IEEE Symposium on VLSI Technology and Circuits (VLSI Technology and Circuits) 1-2 2024年6月16日査読有り
A 100-Bit-Output Modeling Attack-Resistant SPN Strong PUF with Uniform and High-Randomness Response

Kunyang Liu, Yichen Tang, Shufan Xu, Ruilin Zhang, Hirofumi Shinohara

2023 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 2023年4月査読有り筆頭著者
V_SS-Bias-Based Measurement of Random Telegraph Noise in Hybrid SRAM PUF after Hot Carrier Injection Burn-in

Kunyang Liu, Yichen Tang, Shufan Xu, Hirofumi Shinohara

2023 35th International Conference on Microelectronic Test Structure (ICMTS) 2023年3月27日査読有り筆頭著者
A 0.116 pJ/bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Static Inverter Selection and Noise Enhancement

Xingyu Wang, Ruilin Zhang, Kunyang Liu, Hirofumi Shinohara

IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems 2023年査読有り
A 2.17-pJ/b 5b-Response Attack-Resistant Strong PUF with Enhanced Statistical Performance

Kunyang Liu, Gen Li, Zihan Fu, Xuanzhen Wang, Hirofumi Shinohara

2022 IEEE 48th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC) 513-516 2022年9月19日査読有り筆頭著者
A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator Featuring Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

Ruilin Zhang, Xingyu Wang, Kunyang Liu, Hirofumi Shinohara

IEEE Journal of Solid-State Circuits 57(8) 2498-2508 2022年8月査読有り
Statistical Modeling of SRAM PUF Cell Mismatch Shift Distribution After Hot Carrier Injection Burn-In

Kunyang Liu, Kiyoshi Takeuchi, Hirofumi Shinohara

2022 IEEE 34th International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) 2022年3月21日査読有り筆頭著者
A 0.5-V Hybrid SRAM Physically Unclonable Function Using Hot Carrier Injection Burn-In for Stability Reinforcement

Kunyang Liu, Xinpeng Chen, Hongliang Pu, Hirofumi Shinohara

IEEE Journal of Solid-State Circuits 56(7) 2193-2204 2021年7月査読有り筆頭著者
A 0.186-pJ per Bit Latch-Based True Random Number Generator with Mismatch Compensation and Random Noise Enhancement

Ruilin Zhang, Xingyu Wang, Luying Wang, Xinpeng Chen, Fan Yang, Kunyang Liu, Hirofumi Shinohara

2021 Symposium on VLSI Circuits 2021年6月13日査読有り
A Modeling Attack Resilient Strong PUF with Feedback-SPN Structure Having <0.73% Bit Error Rate Through In-Cell Hot-Carrier Injection Burn-In

Kunyang Liu, Zihan Fu, Gen Li, Hongliang Pu, Zhibo Guan, Xingyu Wang, Xinpeng Chen, Hirofumi Shinohara

2021 IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC) 502-503 2021年2月13日査読有り筆頭著者
A 373-F² 0.21%-Native-BER EE SRAM Physically Unclonable Function with 2-D Power-Gated Bit Cells and V_SS Bias-Based Dark-Bit Detection

Kunyang Liu, Yue Min, Xuan Yang, Hanfeng Sun, Hirofumi Shinohara

IEEE Journal of Solid-State Circuits 55(6) 1719-1732 2020年6月査読有り筆頭著者
A 0.5-V 2.07-fJ/b 497-F² EE/CMOS Hybrid SRAM Physically Unclonable Function with <1E-7 Bit Error Rate Achieved through Hot Carrier Injection Burn-in

Kunyang Liu, Hongliang Pu, Hirofumi Shinohara

2020 IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC) 1-4 2020年3月査読有り筆頭著者
A 373 F ² 2D Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark-Bit Detection Technique

Kunyang Liu, Yue Min, Xuan Yang, Hanfeng Sun, Hirofumi Shinohara

2018 IEEE Asian Solid-State Circuits Conference, A-SSCC 2018 - Proceedings 161-164 2018年12月14日査読有り筆頭著者

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講演・口頭発表等

5

均一かつ高ランダム性のレスポンスを持つ、100ビット出力のモデリング攻撃耐性型SPN方式ストロングPUF回路

劉昆洋

第24回情報科学技術フォーラム（FIT2025） 2025年9月3日招待有り
SRAMエントロピー源とSPN構造により100ビット出力空間とモデリング攻撃耐性を両立したストロングPUF

劉昆洋, 唐芸琛, 徐舒帆, 新津葵一, 篠原尋史

電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般 2024年4月11日招待有り
SRAMウィークPUFに基づいた秘密置換を利用したエッジデバイスセキュリティ向けストロングPUF

劉昆洋, 篠原尋史

電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般 2023年4月10日招待有り
情報セキュリティのためのラッチ形静的および動的乱数発生回路

篠原尋史, 劉昆洋, 張瑞琳, 王興宇

電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、アナログ、アナデジ混載、RF及びセンサインタフェース回路、低電圧・低消費電力技術、新デバイス・回路とその応用 2021年8月18日招待有り
A 373F² 2D-Power-Gated EE SRAM Physically Unclonable Function with Dark‐Bit Detection Technique

劉昆洋, 篠原尋史

電子情報通信学会集積回路研究会（ICD）、メモリ技術と集積回路技術一般 2019年4月22日招待有り

担当経験のある科目(授業)

2

2025年10月 - 現在

物理学実験 (京都大学)
2024年4月 - 現在

電気電子工学実験・マイクロコンピュータ (京都大学)

所属学協会

3

2024年4月 - 現在

情報処理学会
2023年2月 - 現在

電子情報通信学会
2017年1月 - 現在

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

共同研究・競争的資金等の研究課題

2

半導体エージング技術による低消費電力・高安定性IoTセキュリティ基盤回路の研究

日本学術振興会科学研究費助成事業若手研究 2025年4月 - 2028年3月

劉昆洋
次世代ＩｏＴデバイスの安全認証に向けた高耐攻撃性・高スループット・低消費電力ストロングＰＵＦ集積回路システム

公益財団法人北九州産業学術推進機構旭興産グループ研究支援プログラム 2022年4月 - 2024年1月

劉昆洋

学術貢献活動

4