2015年 X線マイクロ回折法による半極性面(20-21)GaN厚膜の欠陥分布評価 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM) 内山星郎, 竹内正太郎, 荒内琢士, 橋本健宏, 山根啓輔, 岡田成仁, 今井康彦, 木村滋, 只友一行, 酒井朗 巻 76th 号 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201502206159612861 ID情報 J-Global ID : 201502206159612861 エクスポート BibTeX RIS
