2020年12月14日
Fast-ion-induced secondary ion emission from submicron droplet surfaces studied using a new coincidence technique with forward-scattered projectiles
The Journal of Chemical Physics
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- 巻
- 153
- 号
- 22
- 開始ページ
- 224201
- 終了ページ
- 224201
- 記述言語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- DOI
- 10.1063/5.0032301
- 出版者・発行元
- AIP Publishing
- ID情報
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- DOI : 10.1063/5.0032301
- ISSN : 0021-9606
- eISSN : 1089-7690