産業財産権

特許権

中性子照射量測定方法及び中性子照射量測定装置

  • 伊藤 主税
  • ,
  • 青山 卓史
  • ,
  • 前田 茂貴
  • ,
  • 原野 英樹
  • ,
  • 井口 哲夫

出願番号
特願2009-165399
出願日
2009年7月14日
公開番号
特開2011-021923
公開日
2011年2月3日
特許番号/登録番号
特許第5388288号
登録日
発行日
2013年10月18日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201403085812968522
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201403085812968522