Industrial Property Rights

Patent

中性子照射量測定方法及び中性子照射量測定装置

独立行政法人日本原子力研究開発機構
  • 伊藤 主税
    • ,
  • 青山 卓史
    • ,
  • 前田 茂貴
    • ,
  • 原野 英樹
    • ,
  • 井口 哲夫
Application no.
特願2009-165399
Date applied
Jul 14, 2009
Announcement no.
特開2011-021923
Date announced
Feb 3, 2011
Patent/Registration no.
特許第5388288号
Date registered
Date issued
Oct 18, 2013
Link information
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/en/detail?JGLOBAL_ID=201403085812968522
URL
http://jglobal.jst.go.jp/public/201403085812968522
ID information
  • J-Global ID : 201403085812968522
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