2015年10月10日 大規模ハードウェアIPへのモデル検査の適用事例 電気・情報関連学会中国支部連合大会講演論文集(CD-ROM) 森光勇太, 横川智教, 近藤真史, 宮崎仁, 佐藤洋一郎, 有本和民 巻 66th 号 開始ページ ROMBUNNO.19-1 終了ページ 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201502208137307499URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/201502208137307499 ID情報 J-Global ID : 201502208137307499 エクスポート BibTeX RIS