書籍等出版物

2018年8月

Book chapter, Radiation-Induced Soft Errors, VLSI Design and Test for Systems Dependability

  • E. Ibe
    • ,
  • S. Yoshimoto
    • ,
  • M. Yoshimoto
    • ,
  • H. Kawaguchi
    • ,
  • K. Kobayashi
    • ,
  • J. Furuta
    • ,
  • Y. Mitsuyama
    • ,
  • M
    • ,
  • Hashimoto,T. Onoye
    • ,
  • H. Kanbara
    • ,
  • H. Ochi
    • ,
  • K. Wakabayashi
    • ,
  • H. Onodera
    • ,
  • M. Sugihara
担当区分
共著
出版者・発行元
Springer
記述言語
著書種別
学術書
DOI
ISBN
9784431565925
ID情報
  • ISBN : 9784431565925
書籍等出版物リストへ