書籍等出版物

2018年8月

Book chapter, Time-Dependent Degradation in Device Characteristics and Countermeasures by Design, VLSI Design and Test for Systems Dependability

  • T. Sato
    • ,
  • M. Hashimoto
    • ,
  • S. Tanakamaru
    • ,
  • K. Takeuchi
    • ,
  • Y. Sato
    • ,
  • S. Kajihara
    • ,
  • M. Yoshimoto
    • ,
  • J. Jung
    • ,
  • Y. Kimi
    • ,
  • H. Kawaguchi
    • ,
  • H. Shimada
    • ,
  • J. Yao
担当区分
共著
出版者・発行元
Springer
記述言語
著書種別
学術書
DOI
ISBN
4431565922
ID情報
  • ISBN : 4431565922
書籍等出版物リストへ