産業財産権

特許権

遺伝子検査方法

株式会社日立製作所
  • 永井 啓一
  • ,
  • 岡野 和宣
  • ,
  • 野田 英之
  • ,
  • 松永 浩子
  • ,
  • 谷口 妃代美
  • ,
  • 矢澤 義昭
  • ,
  • 梶山 智晴

出願番号
特願2004-191781
出願日
2004年6月29日
公開番号
特開2006-006274
公開日
2006年1月12日
特許番号/登録番号
特許第4122317号
登録日
発行日
2008年5月9日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103081152130159
ID情報
  • J-Global ID : 201103081152130159