特許権 遺伝子検査方法 株式会社日立製作所 永井 啓一, 岡野 和宣, 野田 英之, 松永 浩子, 谷口 妃代美, 矢澤 義昭, 梶山 智晴 出願番号 特願2004-191781 出願日 2004年6月29日 公開番号 特開2006-006274 公開日 2006年1月12日 特許番号/登録番号 特許第4122317号 登録日 発行日 2008年5月9日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103081152130159 ID情報 J-Global ID : 201103081152130159