2014年12月19日
FPGAのリングオシレータにおけるNBTI劣化量の低減と制御に関する検討 (ディペンダブルコンピューティング)
電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
- ,
- ,
- 巻
- 114
- 号
- 384
- 開始ページ
- 1
- 終了ページ
- 6
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 一般社団法人電子情報通信学会
リングオシレータはLSIやFPGAの信頼性向上の様々な用途に使われているが,NBTI等の物理劣化現象による特性の悪化が問題となっている.本論文では,FPGAで構成されたリングオシレータにおいて,非動作時のルックアップテーブルの入力値を適切に制御することにより,その劣化量を低減あるいは制御可能であることを示す.また様々な構成のリングオシレータの測定周波数を比較することにより,それらの劣化量の関係についても論じる.
- リンク情報
-
- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110009977159
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11645397
- ID情報
-
- ISSN : 0913-5685
- CiNii Articles ID : 110009977159
- CiNii Books ID : AA11645397
- identifiers.cinii_nr_id : 9000019117989