MISC

2022年2月

Kirkpatrick-Baez(KB)ミラーを用いたマイクロビームX線の調整

JAEA-Technology 2021-031
  • 谷田 肇
  • ,
  • 辻 卓也
  • ,
  • 小畠 雅明

開始ページ
25
終了ページ
記述言語
日本語
掲載種別
機関テクニカルレポート,技術報告書,プレプリント等
DOI
10.11484/jaea-technology-2021-031

東京電力(株)福島第一原子力発電所の廃炉措置において、燃料デブリ等の分析は極めて重要である。試験的に取り出される燃料デブリのうち、分析に利用できる試料は1mm以下の微粒子状であると予想される。この様な試料の分析法として、非破壊のX線分析方法は有効であるが、そのような微粒子に適用するためにはX線をマイクロメートルオーダーに集光する必要がある。そのためにKirkpatrick-Baez(KB)ミラーを導入した。その選定、仕様決定から調整方法、1$\mu$mの位置分解能での元素分布取得と価数評価などの例について記録として残す。

リンク情報
DOI
https://doi.org/10.11484/jaea-technology-2021-031
URL
https://jopss.jaea.go.jp/search/servlet/search?5073142
ID情報
  • DOI : 10.11484/jaea-technology-2021-031

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