論文

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2015年7月

Coexistence of passive and active oxidation for O-2/Si(0 01) system observed by SiO mass spectrometry and synchrotron radiation photoemission spectroscopy (vol 216, pg 8, 2003)

APPLIED SURFACE SCIENCE
  • Yuden Teraoka
    • ,
  • Kousuke Moritani
    • ,
  • Akitaka Yoshigoe
巻
343
号
開始ページ
213
終了ページ
213
記述言語
英語
掲載種別
DOI
10.1016/j.apsusc.2015.02.147
出版者・発行元
ELSEVIER SCIENCE BV
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2015.02.147
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000353381900030&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1016/j.apsusc.2015.02.147
  • ISSN : 0169-4332
  • eISSN : 1873-5584
  • Web of Science ID : WOS:000353381900030
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