講演・口頭発表等

国際会議
2018年10月29日

Atom probe study of impurity distribution at Si/GaAs heterointerfaces fabricated by surface-activated bonding

Summit of Materials Science 2018 (SMS2018)
  • Y. Shimizu
    • ,
  • N. Ebisawa
    • ,
  • Y. Ohno
    • ,
  • J. Liang
    • ,
  • N. Shigekawa
    • ,
  • K. Inoue
    • ,
  • Y. Nagai
記述言語
英語
会議種別
ポスター発表
開催地
東北大学金属材料研究所
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