招待有り 2015年9月 各種顕微鏡法によるSiC上グラフェンの観察 THE HITACHI SCIENTIFIC INSTRUMENT NEWS 永瀬 雅夫 巻 Vol.58 号 No.2 開始ページ 5027 終了ページ 5034 記述言語 日本語 掲載種別 記事・総説・解説・論説等（学術雑誌） エクスポート BibTeX RIS
