谷城康眞 (TANISHIRO YASUMASA) - マイポータル

基本情報

学位: 理学修士(東京工業大学)

研究者番号: 40143648
J-GLOBAL ID: 200901061711205630
researchmap会員ID: 1000015897

研究分野

経歴

1998年 - 2007年

:Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering Assistant Professor
1998年 - 2007年

:東京工業大学大学院理工学研究科助手
2007年

-:Tokyo Institute of Technology Graduate School of Science and Engineering Assistant Professor
2007年

-:東京工業大学大学院理工学研究科助教
1986年 - 1998年

:Tokyo Institute of Technology Faculty of Science Assistant Professor
1986年 - 1998年

:東京工業大学理学部助手
1981年 - 1986年

:Tokyo Institute of Technology Faculty of Science Research Associate
1981年 - 1986年

:東京工業大学理学部助手

学歴

委員歴

2007年 - 2007年

日本結晶学会, 平成19年度年会実行委員
2007年 - 2007年

日本結晶学会, 平成19年度年会実行委員
2003年 - 2005年

日本顕微鏡学会, 関東支部幹事
2003年 - 2005年

日本顕微鏡学会, 超分解能電子顕微鏡分科会責任者、関東支部幹事、関東支部幹事、関東支部評議員
1992年 - 1993年

日本物理学会, 表面界面分科世話人
1992年 - 1993年

日本物理学会, 表面界面分科世話人

受賞

2004年

SSSJ Paper Award, The Surface Science Society of Japan
2004年

日本表面科学会論文賞
2001年

Seto Award, Japanese Society of Electron Microscopy
2001年

日本電子顕微鏡学会学会賞（瀬藤賞）
1990年

Tejima Award (Nakamura Prize), Tejima Organization
1990年

手島記念研究賞(中村研究賞)
1987年

Paper Award, Japan Society of Applied Physics
1987年

応用物理学会賞C(会誌賞)

論文

Nanocycles of materials' transport studied by in-situ electron microscopy and diffraction

Takayanagi, K., Oshima, Y., Lee, S., Tanaka, T., Tanishiro, Y.

Journal of Physics: Conference Series 522 012005 (6 pp.) 2014年査読有り
Determination of aberration center of Ronchigram for automated aberration correctors in scanning transmission electron microscopy

Takumi Sannomiya, Hidetaka Sawada, Tomohiro Nakamichi, Fumio Hosokawa, Yoshio Nakamura, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi

ULTRAMICROSCOPY 135 71-79 2013年12月査読有り
収差補正電子顕微鏡と表面・界面科学

高柳邦夫, 大島義文, 李少淵, 田中崇之, 谷城康眞

表面科学 : hyomen kagaku = Journal of the Surface Science Society of Japan 34(5) 226-233 2013年5月10日
Controlled polarity of sputter-deposited aluminum nitride on metals observed by aberration corrected scanning transmission electron microscopy

T. Harumoto, T. Sannomiya, Y. Matsukawa, S. Muraishi, J. Shi, Y. Nakamura, H. Sawada, T. Tanaka, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 113(8) 2013年2月査読有り
Element discrimination in a hexagonal boron nitride nanosheet by aberration corrected transmission electron microscopy

Mitome Masanori, Sawada Hidetaka, Kondo Yukihito, Tanishiro Yasumasa, Takayanagi Kunio

ULTRAMICROSCOPY 122 6-11 2012年11月査読有り
Surface imaging by ABF-STEM: Lithium ions in diffusion channel of LIB electrode materials

Soyeon Lee, Yoshifumi Oshima, Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawa, Eiji Okunishi, Toshikatsu Kaneyama, Yukihito Kondo, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi

e-Journal of Surface Science and Nanotechnology 10 454-458 2012年8月25日査読有り
球面収差補正透過型電子顕微鏡法を用いたアトミックスケールでの構造解析

大島義文, 谷城康眞, 田中崇之, 高柳邦夫

日本結晶学会誌 54(3) 159-165 2012年6月30日
In-situ ABF-STEM Observation of Structure Transformation of Spinel LiV2O4 Crystals

S. Lee, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

Microscopy and Microanalysis 18(2) 368-369 2012年査読有り
Study on probe current dependence of the intensity distribution in annular dark field images

Kim S, Oshima Y, Tanishiro Y, Takayanagi K

Ultramicroscopy 121 38-41 2012年査読有り
In-situ Annular Bright-Field Imaging of Structural Transformation of Spinel LiV2O4 Crystals into Defective LixV2O4

Lee Soyeon, Oshima Yoshifumi, Niitaka Seiji, Takagi Hidenori, Tanishiro Yasumasa, Takayanagi Kunio

Japanese Journal of Applied Physics 51(2) 20202-020202-3 2012年査読有り
Quantitative annular dark-field STEM images of a silicon crystal using a large-angle convergent electron probe with a 300-kV cold field-emission gun

Kim Suhyun, Oshima Yoshifumi, Sawada Hidetaka, Kaneyama Toshikatsu, Kondo Yukihito, Takeguchi Masaki, Nakayama Yoshiko, Tanishiro Yasumasa, Takayanagi Kunio

Journal of Electron Microscopy 60(2) 109-116 2011年査読有り
Electron microscopy at a sub-50 pm resolution

Takayanagi K, Kim S, Lee S, Oshima Y, Tanaka T, Tanishiro Y, Sawada H, Hosokawa F, Tomita T, Kaneyama T …

Journal of Electron Microscopy 60 S239-S244 2011年査読有り
Counting lithium ions in the diffusion channel of an LiV2O4 crystal

Lee Soyeon, Oshima Yoshifumi, Sawada Hidetaka, Hosokawa Fumio, Okunishi Eiji, Kaneyama Toshikatsu, Kondo Yukihito, Niitaka Seiji, Takagi Hidenori, Tanishiro Yasumasa …

Journal of Applied Physics 109(11) 2011年査読有り
STEM imaging of 47-pm-separated atomic columns by a spherical aberration-corrected electron microscope with a 300-kV cold field emission gun

Hidetaka Sawada, Yasumasa Tanishiro, Nobuhiro Ohashi, Takeshi Tomita, Fumio Hosokawa, Toshikatsu Kaneyama, Yukihito Kondo, Kunio Takayanagi

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 58(6) 357-361 2009年12月査読有り
In-situ observation of Au/TiO2 catalyst in oxygen-gas environments

T. Tanaka, K. Sano, M. Ando, H. Sawada, F. Hosokawa, E. Okunishi, Y. Kondo, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

Microscopy and Microanalysis 15(2) 692-693 2009年7月
Detection of Arsenic Dopant Atoms in Silicon Crystal by Aberration Corrected Scanning Transmission Electron Microscopy

Oshima Y, Hashimoto Y, Sawada H, Hshikawa N, Asayama K, Kondo Y, Tanishiro Y, Takayanagi K

Microscopy and Microanalysis 15 1488-1489 2009年査読有り
Auto-adjustment of aberration correction and experimental evaluation of R005 microscope

S. Sawada, F. Hosokawa, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

Microscopy and Microanalysis 14(2) 802-803 2008年8月査読有り
Spectro-microscopy by TEM-SEM

K Yagi, Y Tanishiro, H Minoda

NANOSCALE SPECTROSCOPY AND ITS APPLICATIONS TO SEMICONDUCTOR RESEARCH 588 11-23 2002年査読有り
Time evolution of DC heating-induced in-phase step wandering on Si(111) vicinal surfaces

H Minoda, Morishima, I, M Degawa, Y Tanishiro, K Yagi

SURFACE SCIENCE 493(1-3) 487-493 2001年11月査読有り
Energy filtering in UHV reflection electron microscopy

Y Tanishiro, T Suzuki, N Ishiguro, H Minoda, K Yagi

MICROBEAM ANALYSIS 2000, PROCEEDINGS (165) 215-216 2000年査読有り

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MISC

230

27aCL-4 薄膜試料における環状明視野像メカニズムの解明(27aCL X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

李少淵, 大島義文, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 67(1) 1012-1012 2012年3月5日
Direct imaging of lithium atoms in LiV2O4 by spherical aberration-corrected electron microscopy

Yoshifumi Oshima, Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawa, Eiji Okunishi, Toshikatsu Kaneyama, Yukihito Kondo, Seiji Niitaka, Hidenori Takagi, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 59(6) 457-461 2010年12月
25pWZ-1 CuInSe_2結晶の欠陥のSTEM観察(25pWZ X線・粒子線(電子線),領域10(誘電体格子欠陥,X線・粒子線フォノン))

竹下茜, 田中崇之, 日比野紘大, 沢田英敬, 近藤行人, 久保田忠弘, 三宅秀人, 大島義文, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 65(2) 920-920 2010年8月18日
A Dopant Cluster in a Highly Antimony Doped Silicon Crystal

Suhyun Kim, Yoshifumi Oshima, Hidetaka Sawada, Naoto Hashikawa, Kyoichiro Asayama, Tosikatu Kaneyama, Yukihito Kondo, Yasumasa Tanishiro, Kunio Takayanagi

APPLIED PHYSICS EXPRESS 3(8) 081301 2010年8月
Detection of arsenic dopant atoms in a silicon crystal using a spherical aberration corrected scanning transmission electron microscope

Y. Oshima, Y. Hashimoto, Y. Tanishiro, K. Takayanagi, H. Sawada, T. Kaneyama, Y. Kondo, N. Hashikawa, K. Asayama

PHYSICAL REVIEW B 81(3) 035317 2010年1月
26aYK-13 収差補正走査型透過電子顕微鏡法によるシリコン結晶中ヒ素ドーパントの検出(X線・粒子線(電子線),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

大島義文, 橋本豊, 澤田英敬, 橋川直人, 朝山匡一郎, 近藤行人, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 64(2) 870-870 2009年8月18日
Highly Stable 300kV Cold Field Emission Gun for 50pm Resolution Electron Microscopy

T. Tomita, Y. Tanishiro, T. Miyata, H. Sawada, F. Hosokawa, T. Kaneyama, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Ohshima, N. Yamamoto …

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 15 1084-1085 2009年7月
Electron Energy Loss Spectroscopy of Graphene Identified by Aberration Corrected TEM at 300kV

Y. Abe, T. Tanaka, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 15 1484-1485 2009年7月
Adatom on Graphene, Directly Imaged by Aberration Corrected TEM at 300kV

T. Tanaka, Y. Abe, H. Sawada, E. Okunishi, Y. Kondo, Y. Tanishiro, K. Takayanagi

MICROSCOPY AND MICROANALYSIS 15 1476-1477 2009年7月
Measurement method of aberration from Ronchigram by autocorrelation function

H. Sawada, T. Sannomiya, F. Hosokawa, T. Nakamichi, T. Kaneyama, T. Tomita, Y. Kondo, T. Tanaka, Y. Oshima, Y. Tanishiro …

ULTRAMICROSCOPY 108(11) 1467-1475 2008年10月
22pPSB-20 収差補正STEMによる単原子観察(22pPSB 領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

神保雄, 谷城康眞, 高柳邦夫, 沢田英敬

日本物理学会講演概要集 63(2) 841-841 2008年8月25日
23pXA-12 TEM-STM同時観察システム開発と半導体物性の研究(23pXA 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長))

金秀鉉, 谷城康真, 高柳邦大

日本物理学会講演概要集 63(2) 854-854 2008年8月25日
24pPSA-4 Energy-filtering TEMを用いた金EELSの膜厚依存(ポスターセッション,領域9,表面・界面,結晶成長)

橋本豊, 大島義文, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 63(1) 879-879 2008年2月29日
Development of domestic spherical aberration correction electron microscope, R005

Yasumasa Tanishiro, Yukihito Kondo, Kunio Takayanagi

Shinku/Journal of the Vacuum Society of Japan 51(11) 714-718 2008年
国産球面収差補正電子顕微鏡R005の開発

谷城康眞, 近藤行人, 高柳邦夫

51(11) 714-718 2008年
Achieving 63pm resolution in scanning transmission electron microscope with spherical aberration corrector

Hidetaka Sawada, Fumio Hosokawai, Toshikatsu Kaneyama, Toshihiro Ishizawa, Mitsuhisa Terao, Muneyuki Kawazoe, Takumi Sannomiya, Takeshi Tomita, Yukihito Kondo, Takayuki Tanaka …

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS 46(20-24) L568-L570 2007年6月
ナノ現象の顕微研究

大島義文, 谷城康眞, 近藤行人, 高柳邦夫

応用物理 75(3) 309-313 2006年
21aPS-79 Auナノワイヤの構造と機械的性質(領域9ポスターセッション,領域9(表面・界面,結晶成長))

赤堀千明, 三輪哲史, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 60(2) 772-772 2005年8月19日
20pYE-5 TEM-STMによるAgナノワイヤの構造観察および電気計測II(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))

小川慶太, 伊藤亮治, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 60(2) 753-753 2005年8月19日
20pYE-6 TEM-AFMによる金ナノワイヤの力学特性と構造のその場同時観察(ナノチューブ・ナノワイヤ,領域9(表面・界面,結晶成長))

三輪哲史, 赤堀千明, 谷城康眞, 高柳邦夫

日本物理学会講演概要集 60(2) 753-753 2005年8月19日

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書籍等出版物

表面物性工学ハンドブック第2版

丸善 2007年
Spectro-microscopy by TEM-SEM

Lecture Note in Physics: Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research 2002年
Spectro-microscopy by TEM-SEM

Lecture Note in Physics: Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research 2002年
表面物性測定

丸善実験物理学講座 2001年
Energy Filtering in UHV Reflection Electron Microscopy

Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series 2000年
Energy Filtering in UHV Reflection Electron Microscopy

Microbeam Analysis 2000 (Proc. 2nd Conf. of International Union of Microbeam Analysis Societies, Kailua-Kona, Hawaii, 2000, Eds. D.B.Wiliams and R.Shimizu) IOP Conf. Series 2000年
Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data

in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 1997年
REM Studies of Surface Dynamics on Si Surfaces

in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 1997年
Structure of the In on Si(111)4x1 Surface Determined by Applying Direct Phasing Methods to Transmission Electron Diffraction Data

in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 1997年
REM Studies of Surface Dynamics on Si Surfaces

in Proc. 55th Annual Meeting of the Microscopy Society of America (Cleveland, 1997) 1997年
REM and TEM Studies of Thin Film Growth Dynamics on Si Surfaces

in Mat.Res.Soc.Symp.Proc. 1996年
REM and TEM Studies of Thin Film Growth Dynamics on Si Surfaces

in Mat.Res.Soc.Symp.Proc. 1996年
Growth of Ge on Au Adsorbed Si(001) Studied by REM

in Proc.13th International Congress on Electron Microscopy (Paris, 1994) 1994年
REM Observations of Si(5 5 12) Surfaces

in Proc.13th International Congress on Electron Microscopy (Paris, 1994) 1994年
Electron Microscope Studies of Surface Dynamic Processes

in Book “Thin Films and Phase Transitions on Surfaces “ (Proceedings of the East-West Surface Science Workshop ’94 (EWSSW94) , Pamporovo(1994), Eds. by M.Michailov and I.Gutzow) 1994年
Growth of Ge on Au Adsorbed Si(001) Studied by REM

in Proc.13th International Congress on Electron Microscopy (Paris, 1994) 1994年
REM Observations of Si(5 5 12) Surfaces

in Proc.13th International Congress on Electron Microscopy (Paris, 1994) 1994年
Electron Microscope Studies of Surface Dynamic Processes

in Book “Thin Films and Phase Transitions on Surfaces “ (Proceedings of the East-West Surface Science Workshop ’94 (EWSSW94) , Pamporovo(1994), Eds. by M.Michailov and I.Gutzow) 1994年
REM and RHEED Studies of Pb Adsorption on Si (111)

Mater. Res. Soc. Proc. Materials Research Society Symposium Proceedings 1993年
REM and RHEED Studies of Pb Adsorption on Si (111)

Mater. Res. Soc. Proc. Materials Research Society Symposium Proceedings 1993年