論文

査読有り
2020年4月20日

Crystalline Characterization of TlBr Semiconductor Detectors Using Wavelength-resolved Neutron Imaging

Sensors and Materials
  • Kenichi Watanabe
  • ,
  • Kio Matsumoto
  • ,
  • Akira Unitani
  • ,
  • Keitaro Hitomi
  • ,
  • Mitsuhiro Nogami
  • ,
  • Winfried Kockelmann

32
4
開始ページ
1435
終了ページ
1435
記述言語
掲載種別
研究論文(学術雑誌)
DOI
10.18494/sam.2020.2744
出版者・発行元
MYU K.K.

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DOI
https://doi.org/10.18494/sam.2020.2744

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