Jun, 2022
光再構成型ゲートアレイVLSIの290 Mradまでのトータルドーズ耐性試験
電子情報通信学会リコンフィギャラブルシステム研究会技術研究報告
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- Volume
- 122
- Number
- 60
- First page
- 37
- Last page
- 40
- Language
- Japanese
- Publishing type
- Research paper, summary (national, other academic conference)