論文

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2018年

Sodium Distribution at the Surface of Silicon Nitride Film after Potential-Induced Degradation Test and Rrecovery Test of Photovoltaic Modules

Japanese Journal of Applied Physics

Fumitaka Ohashi
Yoshiki Mizuno
Hiroki Yoshida
Hiroya Kosuga
Taishi Furuya
Ryo Fuseya
Ruben Jeronimo
Freitas
Yukiko Hara
Atsushi Masuda
Shuichi Nonomura

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巻: 57
号: 8
開始ページ: 08RG05-1
終了ページ: 08RG-6
記述言語
掲載種別: 研究論文（国際会議プロシーディングス）
DOI: 10.7567/JJAP.57.08RG05

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DOI: https://doi.org/10.7567/JJAP.57.08RG05
Scopus: https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=85050977546&origin=inward
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ID情報

DOI : 10.7567/JJAP.57.08RG05
ISSN : 0021-4922
eISSN : 1347-4065
SCOPUS ID : 85050977546

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