2013年3月26日
27pEG-11 62.5-250keV/u H_2^+とC_2^+イオン衝撃により炭素薄膜から放出される二次電子収量の膜厚依存性(27pEG 放射線物理(放射線損傷・阻止能・二次電子放出・クラスター),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
日本物理学会講演概要集
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- 巻
- 68
- 号
- 1
- 開始ページ
- 225
- 終了ページ
- 225
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 出版者・発行元
- 一般社団法人日本物理学会
- リンク情報
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- CiNii Articles
- http://ci.nii.ac.jp/naid/110009643224
- CiNii Books
- http://ci.nii.ac.jp/ncid/AA11439205
- ID情報
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- ISSN : 1342-8349
- CiNii Articles ID : 110009643224
- CiNii Books ID : AA11439205