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2014年8月21日

半導体レーザの周波数雑音を用いた物理乱数の生成 : 光源の特性による影響 (光エレクトロニクス)

電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
  • 水谷 直博
  • ,
  • 長谷川 真俊
  • ,
  • 新井 秀明
  • ,
  • 前原 進也
  • ,
  • 土井 康平
  • ,
  • 佐藤 孝
  • ,
  • 大平 泰生
  • ,
  • 大河 正志
  • ,
  • 坂本 秀一

114
186
開始ページ
59
終了ページ
62
記述言語
日本語
掲載種別
出版者・発行元
一般社団法人電子情報通信学会

インターネット社会において、暗号技術は必要不可欠なものとなっている。現在多く使われている疑似乱数を用いた暗号は、解読に膨大な時間がかかることを担保に安全性を保っている。しかし、高速処理可能なコンピュータの登場により、解読される危険性がでてきた。一方で、理論上解読不可能な量子暗号通信の研究が進んでおり、物理乱数が大量に必要とされている。本研究では、半導体レーザの周波数雑音を用いて物理乱数の生成を行った。今回は、面発光型レーザ(VCSEL)とファブリ・ペロー型レーザ(FPLD)を用いて乱数生成を行い、VCSELでは120Gb/s、ではFPLDでは40Gb/sで乱数生成できた。

リンク情報
CiNii Articles
http://ci.nii.ac.jp/naid/110009947744
CiNii Books
http://ci.nii.ac.jp/ncid/AN10012932
ID情報
  • ISSN : 0913-5685
  • CiNii Articles ID : 110009947744
  • CiNii Books ID : AN10012932
  • identifiers.cinii_nr_id : 1000040211932

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