産業財産権

特許権

測定処理を高速化した発光測定装置

  • 小内清
  • ,
  • 石浦正寛
  • ,
  • 白木央
  • ,
  • 太田武司
  • ,
  • 大久保充宏
  • ,
  • 川角康之

特許番号/登録番号
特許5509430
登録日
2014年4月4日
発行日
権利者
国立大学法人名古屋大学、中立電機株式会社