2008年11月 異常分散効果を用いた小角散乱法による高分子薄膜中の金属イオン分布の解析 KEK Proc 杉山正明, 副島雄児, 折原宏, 伊藤恵司, 森一広, 福長俊晴 巻 号 2008-8 開始ページ 61 終了ページ 64 記述言語 日本語 掲載種別 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201002278351689227 ID情報 J-Global ID : 201002278351689227 エクスポート BibTeX RIS
