MISC

2006年9月1日

X線異常分散効果を用いたスメクチック液晶の構造解析

日本液晶学会討論会講演予稿集(CD-ROM)

會田航平
NA Yang‐Ho
折原宏
杉山正明
副島雄児
氏家誠司
原一広

巻: 2006
号
開始ページ: PA17
終了ページ: 145
記述言語: 日本語
掲載種別
DOI: 10.11538/ekitou.2006.0.145.0
出版者・発行元: THE JAPANESE LIQUID CRYSTAL SOCIETY

本研究では、我々はスメクチック液晶に添加したの銅分子の位置を測定する試みをしました。Ｘ線異常分散効果を用いることはソフトマターの領域においてドーパント分子の位置を測定するために有用であると思われます。

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.11538/ekitou.2006.0.145.0
J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200902235471402345
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/130005043764

ID情報

DOI : 10.11538/ekitou.2006.0.145.0
ISSN : 1880-3490
J-Global ID : 200902235471402345
CiNii Articles ID : 130005043764

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