2008年10月15日 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた極微欠陥分布のイメージング評価 放射線化学討論会講演要旨集 大島永康, 鈴木良一, 大平俊行, 木野村淳, 鳴海貴允, 上殿明良, 藤浪真紀 記述言語 日本語 会議種別