2009年3月
27aRE-7 陽電子プローブマイクロアナライザーを用いた高分子中の陽電子寿命測定(27aRE X線・粒子線(陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
日本物理学会講演概要集
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- 巻
- 64
- 号
- 1
- 開始ページ
- 934
- 終了ページ
- 記述言語
- 日本語
- 掲載種別
- 研究論文（学術雑誌）
- 出版者・発行元
- 社団法人日本物理学会
- ID情報
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- ISSN : 1342-8349