特許権 透過電子顕微鏡の高精度な軸調整方法及びその装置 独立行政法人物質・材料研究機構 石塚 和夫, 木本 浩司, 松井 良夫, 板東 義雄 出願番号 特願2004-020121 出願日 2004年1月28日 公開番号 特開2005-216612 公開日 2005年8月11日 リンク情報 J-GLOBALhttps://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=200903051270673707URLhttp://jglobal.jst.go.jp/public/200903051270673707 ID情報 J-Global ID : 200903051270673707