MISC

2005年10月1日

Thickness measurements on transparent substrates based on reflection ellipsometry I Optical effects of high-refractive-index additional layers

Applied Optics

Soichi Otsuki
Koji Ohta
Kaoru Tamada
Shin-ichi Wakida

巻: 44
号: 28
開始ページ: 5910
終了ページ: 5910
DOI: 10.1364/ao.44.005910
出版者・発行元: The Optical Society

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1364/ao.44.005910
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/80017581387
PubMed: https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed/16231798
URL: https://www.osapublishing.org/viewmedia.cfm?URI=ao-44-28-5910&seq=0

ID情報

DOI : 10.1364/ao.44.005910
ISSN : 0003-6935
eISSN : 1539-4522
CiNii Articles ID : 80017581387
PubMed ID : 16231798

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