産業財産権

特許権

非磁性近見反応計測方法および装置

工業技術院長
  • 武田 常廣
  • ,
  • 遠藤 博史
  • ,
  • 橋本 佳三

出願番号
特願平8-050686
出願日
1996年3月8日
公開番号
特開平9-238903
公開日
1997年9月16日
特許番号/登録番号
特許第2733216号
登録日
発行日
1997年12月26日

リンク情報
J-GLOBAL
https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201103037718599193
ID情報
  • J-Global ID : 201103037718599193