論文

査読有り
2018年7月

Evidence for line width and carrier screening effects on excitonic valley relaxation in 2D semiconductors

Nature Communications
  • Y. Miyauchi
  • S. Konabe
  • F. Wang
  • W. Zhang
  • A. Hwang
  • Y. Hasegawa
  • L. Zhou
  • S. Mouri
  • M. Toh
  • G. Eda
  • K. Matsuda
    • … 全て表示
折りたたむ
巻
9
号
開始ページ
2598
終了ページ
記述言語
英語
掲載種別
DOI
10.1038/s41467-018-04988-x
リンク情報
DOI
https://doi.org/10.1038/s41467-018-04988-x
Web of Science
https://gateway.webofknowledge.com/gateway/Gateway.cgi?GWVersion=2&SrcAuth=JSTA_CEL&SrcApp=J_Gate_JST&DestLinkType=FullRecord&KeyUT=WOS:000437102500001&DestApp=WOS_CPL
ID情報
  • DOI : 10.1038/s41467-018-04988-x
  • ISSN : 2041-1723
  • Web of Science ID : WOS:000437102500001
エクスポート
BibTeX RIS
論文リストへ