MISC

2005年

Momentum-imaging spectroscopy of secondary ions from GaN and SiC surfaces collided with highly charged ions at grazing angle

Nucl. Instr Meth. in Phys. Res. B

巻: 232
号: 1-4
開始ページ: 159
終了ページ: 164
DOI: 10.1016/j.nimb.2005.03.054

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DOI: https://doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.054

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DOI : 10.1016/j.nimb.2005.03.054

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