基本情報

所属
電気通信大学 国際教育センター 講師
学位
工学修士(横浜国立大学)
工学博士(横浜国立大学)

研究者番号
70237204
J-GLOBAL ID
200901030764718911

外部リンク

1995-2017 金属薄膜の成長機構。
2000-2005 TEM の試料作製方法。

論文

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所属学協会

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