2005年
Direct phase modulating laser diode interferometer for in-process measurement using sinusoidal signal synchronized with the CCD camera’s exposure time
Proc. of Photonics Asia 2004
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- 巻
- 5633
- 号
- 開始ページ
- 272
- 終了ページ
- 279
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 研究論文(国際会議プロシーディングス)
- DOI
- 10.1117/12.603826
- リンク情報
- ID情報
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- DOI : 10.1117/12.603826
- ISSN : 0277-786X
- Web of Science ID : WOS:000228331600033