MISC

2014年

うず電流探傷技術を用いたPCB検査のための高速な欠陥判定

電気学会論文誌 C

村田裕章
池畑芳雄
山田外史

巻: 134
号: 5
開始ページ: 651
終了ページ: 656
記述言語: 日本語
掲載種別
DOI: 10.1541/ieejeiss.134.651

リンク情報

DOI: https://doi.org/10.1541/ieejeiss.134.651
J-GLOBAL: https://jglobal.jst.go.jp/detail?JGLOBAL_ID=201402237537042798
URL: http://jglobal.jst.go.jp/public/201402237537042798

ID情報

DOI : 10.1541/ieejeiss.134.651
ISSN : 1348-8155
ISSN : 0385-4221
J-Global ID : 201402237537042798
SCOPUS ID : 84899806438

エクスポート: BibTeX RIS

MISCリストへ