佐々木彰 (Akira Sasaki) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 旧所属静岡大学工学部機械工学科教授

学位: 理学博士(東京工業大学)

J-GLOBAL ID: 200901063292451660
researchmap会員ID: 1000022939

研究キーワード

2

研究分野

3

経歴

6

1985年10月

- 静岡大学工学部教授
1985年

Octorber, 1985, Professor, Faculty of Engineering,
1976年4月

静岡大学工学部助教授
1974年4月

静岡大学工学部講師
1974年

April, 1974, Assistant Professor, Facuity of Engineering, Shizuoka University
静岡大学

学歴

4

委員歴

5

1994年 - 1994年

日本光学会, 光学連合シンポジウム浜松94実行委員(1994)
1990年 - 1993年

レーザー学会, レーザーセミナー実行委員
1990年 - 1991年

精密工学会, 1991年秋期大会実行委員会幹事
1991年

米国光学会, Reviewer
1991年

The Optical Society of America, Reviewer

MISC

124

Nanometer-scale manipulation and ultrasonic cutting using an atomic force microscope controlled by a haptic device as a human interface

Futoshi Iwata, Kouhei Ohara, Yuichi Ishizu, Akira Sasaki, Hisayuki Aoyama, Tatsuo Ushiki

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 47(7) 6181-6185 2008年7月
Nanometre-scale deposition of colloidal Au particles using electrophoresis in a nanopipette probe

F. Iwata, S. Nagami, Y. Sumiya, A. Sasaki

NANOTECHNOLOGY 18(10) 105301 2007年3月
Nanometer-scale metal plating using a scanning shear-force microscope with an electrolyte-filled micropipette probe

F Iwata, Y Sumiya, A Sasaki

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 43(7B) 4482-4485 2004年7月
Submicrometre-scale fabrication of polycarbonate surface using a scanning micropipette probe microscope

F Iwata, Y Sumiya, S Nagami, A Sasaki

NANOTECHNOLOGY 15(5) 422-426 2004年5月
微細加工ツールとしてのプローブ技術

応用物理 73(4) 490-493 2004年
Nanometer scale-electrochromic modification of NiO films using a novel technique of scanning near-field optical microscopy

F Iwata, K Mikage, H Sakaguchi, M Kitao, A Sasaki

SOLID STATE IONICS 165(1-4) 7-13 2003年12月
Nanometer-scale layer modification of polycarbonate surface by scratching with tip oscillation using an atomic force microscope

F Iwata, M Yamaguchi, A Sasaki

WEAR 254(10) 1050-1055 2003年7月
Current-sensing scanning near-field optical microscopy using a metal probe for nanometre-scale observation of electrochromic films

F Iwata, K Mikage, H Sakaguchi, M Kitao, A Sasaki

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD 210(3) 241-246 2003年6月
Nanometer-Scale Layer Modification of Polycarbonate Surface by Scratching with Tip Oscillation Using an Atomic Force Microscope

IWATA F, YAMAGUCHI M, SASAKI A

WEAR 254(10) 1050-1055 2003年
Nanometre-scale modification of a urethane-urea copolymer film using local field enhancement at an apex of a metal coated probe

F Iwata, K Kobayashi, A Sasaki, Y Kawata, C Egami, O Sugihara, M Tuchimori, O Watanabe

NANOTECHNOLOGY 13(2) 138-142 2002年4月
原子間力顕微鏡を用いた超音波振動切削法 =金属、ポリマー、生体資料のナノスケール加工=

超音波TECHNO (5-6) 23-27 2002年
Nanometer-scale electrochromic properties observed by scanning near-field optical microscopy capable of local current sensing

Trans. Material. Reser. Soc. Jpn 27(2) 361-364 2002年
シングルスリットによる鏡面反射率の測定

深谷次助, 佐々木彰, 岩田太, 山本和彦, 若杉靖夫

精密工学会誌 68(7) 958-961 2002年
Nanometer-scale electrochromic properties observed by scanning near-field optical microscopy capable of local current sensing

27(2) 361-364 2002年
シングルスリットによる鏡面反射率の測定

深谷次助, 佐々木彰, 岩田太, 山本和彦, 若杉靖夫

精密工学会誌 68(7) 958-961 2002年
Determination of performance on tunnel conduction through molecular wire using a conductive atomic force microscope

H Sakaguchi, A Hirai, F Iwata, A Sasaki, T Nagamura, E Kawata, S Nakabayashi

APPLIED PHYSICS LETTERS 79(22) 3708-3710 2001年11月
Photoconductive imaging in a photon scanning tunnelling microscope capable of point-contact current sensing using a conductive fibre probe

F Iwata, D Someya, H Sakaguchi, Y Igasaki, M Kitao, T Kubo, A Sasaki

JOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORD 202(1) 188-192 2001年4月
Nanowearing Property of a Fatigued Polycarbonate Surface Studied by Atomic Force Microscopy

IWATA F, SUZUKI Y, MORIKI Y, KOIKE S, SASAKI A

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 19(3) 666-670 2001年
Nanowearing Property of a Fatigued Polycarbonate Surface Studied by Atomic Force Microscopy

JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B 19(3) 666-670 2001年
Conductive atomic force microscopy study of InGaN films grown by hot-wall epitaxy with a mixed (Ga plus In) source

F Iwata, SC Chu, A Sasaki, K Ishino, A Ishida, H Fujiyasu

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 88(3) 1670-1673 2000年8月

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所属学協会

16

共同研究・競争的資金等の研究課題

9

走査型プローブ顕微鏡に関する研究

フロンティア研究 2000年
走査型ずれ応力顕微鏡に関する研究

フロンティア研究 1993年
Study on Scanning Shearing-Stress Microscopy

Frontier Research 1993年
Cu:KNSBN位相共役鏡に関する研究

フロンティア研究 1992年
Study on Cu:KNSBN Phase Conjugate Mirror

Frontier Research 1992年
光計測機器の開発

フロンティア研究 1991年
Developement of Optical Measurement System

Frontier Research 1991年
走査型トンネル顕微鏡による有機物観察

フロンティア研究 1990年
Organic Material Obervation using STM

Frontier Research 1990年