日比野倫夫 (Michio Hibino) - マイポータル - researchmap

基本情報

所属: 愛知工業大学工学部電子工学科電子工学専攻教授

学位: 工学博士(名古屋大学)

J-GLOBAL ID: 200901055870252703
researchmap会員ID: 1000023920

研究キーワード

10

研究分野

3

経歴

10

1985年 - 2001年

名古屋大学教授
1985年 - 2001年

Nagoya University, Professor
2001年

- 愛知工業大学教授
2001年

- Aichi Institute of Technology, Professor
1976年 - 1985年

名古屋大学助教授
1976年 - 1985年

Nagoya University, Assistant Professor
1973年 - 1976年

名古屋大学講師
1973年 - 1976年

Nagoya University, Lecturer
1967年 - 1973年

名古屋大学助手
1967年 - 1973年

Nagoya University, Research Assistant

学歴

4

委員歴

6

2000年

日本学術振興会マイクロビームアナリシス第１４１委員会, 委員長
2000年

Microbeam Analysis 141 Committee of JSPS, Chairman
1998年 - 1999年

Japanese Society of Electron Microscopy, President, Counsellor
1987年 - 1992年

応用物理学会, 東海支部評議員
1990年 - 1991年

日本顕微鏡学会, 評議員,常務理事,関西支部長,副会長、会長、顧問
1988年 - 1989年

電気学会, 評議員

受賞

4

2003年

日本顕微鏡学会論文賞
2003年

The Thesis Prize of Japan Society of Microscopy
1986年

日本電子顕微鏡学会賞(瀬藤賞)
1986年

Seto Award,Japanese Society of Electron Microscopy

MISC

53

Importance of the 5th order spherical aberration in high resolution spherical aberration controlled electron microscopy

Proc. 4th Int. asymposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '03 622-626 2004年
Evaluation of high-precision phase-shifting electron holography by using hologram simulation

K Yamamoto, T Hirayama, T Tanji, M Hibino

SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS 35(1) 60-65 2003年1月
Electron Energy-Loss Spectroscopy of Conductive Carbon Films Prepared by Electron-Cyclotron-Resonance Plasma Sputtering

Yoshie Murooka, Nobuo Tanaka, Shigeru Hirono, Michio Hibino

Materials Transactions 43(8) 2092-2096 2002年
Structural characterization of GaN laterally overgrown on a (111)Si substrate

S Tanaka, Y Honda, N Sawaki, M Hibino

APPLIED PHYSICS LETTERS 79(7) 955-957 2001年8月
Self-assembling of hot carbon nanoparticles observed by short pulse-arc-discharge

Y Murooka, Y Maede, M Ozaki, M Hibino

CHEMICAL PHYSICS LETTERS 341(5-6) 455-460 2001年6月
高精度位相シフト電子線ホログラフィ

山本和生, 丹司敬義, 日比野倫夫, 平山司

電子顕微鏡 38(1、71-74) 71-74 2001年
Hologram simulation for off-axis electron holography

K Yamamoto, T Tanji, M Hibino

ULTRAMICROSCOPY 85(1) 35-49 2000年9月
Computational fresnel images of magnetic nanoparticles

N Aoyama, K Yamamoto, T Tanji, M Hibino

JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS 39(9A) 5340-5346 2000年9月
Improvement of light collection efficiency of lens-coupled YAG screen TV system for a high-voltage electron microscope

K Yamamoto, T Tanji, M Hibino, P Schauer, R Autrata

MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE 49(6) 596-604 2000年6月
Defect Structure in Selective Area Growth GaN Pyramid on((]G0003[))Si Substrate

Applied Physics Letters 76(19) 2701-2703 2000年
High precision phase-shifting electron holography

K Yamamoto, Kawajiri, I, T Tanji, M Hibino, T Hirayama

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 49(1) 31-39 2000年
Characterization of etch pits and correlated defects in ZnSe/(001)GaAs

S Tanaka, T Goto, M Hibino

MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE 43(6) 518-519 1998年12月
Characteristics and effectiveness of a foil lens for correction of spherical aberration in scanning transmission electron microscopy

T Hanai, H Yoshida, M Hibino

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 47(3) 185-192 1998年
Maximum Entropy Restoration of Electron Microscope Images with a Random-Spatial-Distribution Constraint

Scanning Microscopy Suppl.11,377-388 1997年
A Study of Individual Carbon Nanotubes by Angular-Resolved EELS

Institute of Physics Conference Series (153) 285-288 1997年
Photochemical etching technique for preparing high-quality TEM samples of n-type compound semiconductors

S Tanaka, H Fujii, M Hibino

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 46(2) 129-133 1997年
XTEM sample preparation technique for n-type compound semiconductors using photochemical etching

S Tanaka, H Fujii, M Hibino

MICROSCOPY RESEARCH AND TECHNIQUE 35(4) 363-364 1996年11月
Transmission electron microscopy study of InGaAsP/InGaP thin-layer structure grown by liquid phase epitaxy

S Tanaka, T Ishikawa, M Hibino

JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH 166(1-4) 334-338 1996年9月
INCREASE OF CURRENT-DENSITY OF THE ELECTRON-PROBE BY CORRECTION OF THE SPHERICAL-ABERRATION WITH A SIDE-ENTRY TYPE FOIL LENS

T HANAI, S ARAI, M HIBINO

JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY 44(5) 301-306 1995年10月
Effect of the Three-Fold Astigmatism on the Performance of the Foil Lens Used for Correction of the Spherical Aberration of a Probe-Forming Lens

Optik 97(2) 86-90 1994年

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書籍等出版物

60

Point Cathode Electron Gun Using Electron Bombardment for Cathode Tip Heating:Numerical Study of Heating Condition for High Brightness Operation

Pro. 7th Conf. on Electron Beam Technologies 2003年
Effect of the 5th Order Spherical Aberration on the Phase Contrast Transfer Function of the Spherical Aberration Controlled Objective Lens

Proc. of China-Japan Joint Seminar on Atomic Level Characterization 2002年
Effects of Fresnel Corrections for Phase-Shifting Electron Hologram

Mocroscopy and Microanalysis 2002 2002年
Deconvolution and noise reduction in electron microscope images with a modified maximum entropy method

Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002年
Numerical analysis of beam focusing property of point cathode electron gun

Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002年
Phase contrast transer function of spherical aberration corrected objective lens

Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002年
Quantitative evaluation of Fresnel corrections for high precision phase-shifting electron holography

Proc. 15th Int. Congress on Electron Microscopy 2002年
Hot Carbon Nanoparticles Self-Assembled in Short Pulsed-Arc Discharge

Institute of Physics Conference Series 2001年
Possibility of observing the electroc field due to 5 electrons by high precision phase-shifting electron holography

Proc.3rd Int. Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '01 2001年
TEM observations of GaN laterally overgrown on (111)Si

Proc.3rd Int. Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '01 2001年
Tip radius of tungsten point cathode at high temperatures:Effects of surface diffusion and evaporation

Proc.3rd Int. Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '01 2001年
Transmission electron microscopy study of selective area growth of GaN on (111)Si using AlGaN as an intermediate layer

Proc. Int. Workshop on Nitride Semiconductors, 2000年
Angular-Resolved Electron-Energy-Loss-Spectroscopy of Perovskite Manganeese Oxide

Microscopy and Microanalysis 2000年
Electron Beam-Induced Chemical Reactions of Single Crystal Calcium Fluoride by Time-Resolved EELS

Microscopy and Microanalysis 2000年
As-Quenched Arc Products by Pulse-Discharge

Microscopy and Microanalysis 2000年
Pulse Arc System for Investigation of Initial Fulleren Deposition

Microscopy and Microanalysis 2000年
Simulation of the Effect of Correction of Fresnel Diffraction Caused by the Biprism Filament on Off-Axis Electron Holography

Proc. 3rd Japanese-Polish Joint Seminar on Materials Analysis 2000年
Correction of the Fresnel Diffraction Caused by the Biprism Filament in Phase-Shifting Electron Holography

Proc. 12th European Congress on Electron Microsc., Brno, 2000 2000年
A New Lens-Coupled YAG Screen TV System for High Voltage Electron Microscope

10th Chinese- Japanese Electron Microsc. Seminar, Chengdu, (in print) 1999年
Development and Applications of Highly Precise Phase Measurement Technique using Phase-Shifting Electron Holography

Microscopy and Microanalysis, Portland,1999 1999年

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所属学協会

8

共同研究・競争的資金等の研究課題

6