MISC

査読有り
2009年5月27日

C60結晶の電子線損傷過程の分子スケール観察

日本顕微鏡学会第65回学術講演会 ,仙台
  • 吉田要
    • ,
  • 吉田要
    • ,
  • 小川哲也
    • ,
  • 倉田博基
    • ,
  • 磯田正二
記述言語
日本語
掲載種別
エクスポート
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