1994年1月
Special Number. Negative-Ion Beam Technology and Its Application to Materials Science. Measurement of Heavy Negative Ion Production Efficiencies in Secondary Negative Ion Emission by Sputtering.
Ionics
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- 巻
- 20
- 号
- 1
- 開始ページ
- 19
- 終了ページ
- 27
- 記述言語
- 英語
- 掲載種別
- 記事・総説・解説・論説等（商業誌、新聞、ウェブメディア）
- ID情報
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- J-Global ID : 200902150308221117