MISC

2009年7月

Measurement of work function of hafnium nitride films prepared by RF magnetron sputtering

Proceedings of the 10th International Symposium on Sputtering and Plasma Processes
  • K. Endo
  • ,
  • Y. Miyata
  • ,
  • K. Ikeda
  • ,
  • Y. Gotoh
  • ,
  • H. Tsuji
  • ,
  • J. Ishikawa

開始ページ
535
終了ページ
538
記述言語
英語
掲載種別
研究発表ペーパー・要旨(国際会議)

エクスポート
BibTeX RIS