高井 幹夫

第8回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2011年3月1日～2日 京都リサーチパーク 

独立行政法人日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス第158委員会 2011年

第7回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2010年3月2日～3日 静岡大学浜松キャンパス佐鳴会館 

独立行政法人日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス第158委員会 静岡大学電子工学研究所 2010年

第6回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2009年3月3日～4日 大阪大学中之島センター 

独立行政法人日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクスシ第158委員会 2009年

第5回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2008年3月3日～4日 筑波大学東京キャンパス大塚地区 

独立行政法人日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス第158委員会 2008年

第4回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2007年3月6日～7日 大阪大学中之島センター 

独立行政法人日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス第158委員会 2007年

カーボンナノチューブFEDプロジェクト公開シンポジウム・第3回真空ナノエレクトロニクスシンポジウム 予稿集 2006年3月6日～7日 東京 コクヨホール 

独立行政法人 日本学術振興会 真空ナノエレクトロニクス第158委員会 2006年

Defects and Gallium-Contamination During Focused Ion Beam Micro Machining 

the Proc. of the 13th Intern. Conf. on Ion Implantation Technology(IIT2000)Sep. 17-22 Alpbach Austria 2000年

Soft Error Improvement in SRAMs by Ion Implanted Shallow Well Structure 

The Proc. of the 13th Intern. Conf. on Ion Implantation Technology(IIT2000)Sep. 17-22 Alpbach Austria 2000年

Ion Beam Processing of Metal Gated Field Emitter Arrays 

the Proc. of the 13th Intern. Conf. on Ion Implantation Technology(IIT2000)Sep. 17-22 Alpbach, Austria 2000年

Study for Instability of a Partially Depleted SOI MOSFET due to Floating Effect Tested Using High Energy Nuclear Microprobes 

the Proc. of the 13th Intern. Conf. on Ion Implantation Technology(IIT2000)Sep. 17-22 Alpbach, Austria 2000年

Development of enhanced depth resolution analysis technique with Medium Energy Ion Scattering(MEIS) 

the Proc. of the 13th Intern. Conf. on Ion Implantation Technology Sep. 17-22 Alpbach Austria 2000年

Fast Prototyping of Metal Gated Field Emitter Arrays Using Dual Beam System 

Proc. of the 7th Intern. Display Workshops, November 29-December 1 Kobe Japan 2000年

Double-Gated Field-Emitter Arrays for CRT Applications 

Proc. of the 7th Intern. Display Workshops, November 29-December 1, Kobe, Japan 2000年

Suppression of Ion-Induced Charge Collection Against Soft-Error 

1996年

Materials Characteization Using Ion Microbeams 

in the Proc. of the 2nd Japan-Central Europe Joint Workshop on Modelling of Materials and Combustion. 1996年

High Current and Stabilized Field Emitter Arrays of Tungsten-Coated Anodized Silicon 

in the Proc. of Third Intern. Display Workshops(IDW'96) 1996年

Soft Error Evaluation In Drams Using Nuclear Microprobe 

Proc. of the 2nd International Workshop on Radiation Effects of Semiconductor Devices for Space Applications, 1996年

Optimization of Buried Well Structures in Dynamic Random Access Memories against Soft Error Using Probe Induced Current(共著) 

┣DBthe Proc. of the 9h intern. Conf. on Ion Beam Modification of Materials,(/)-┫DB February 5-10, 1995, Canberra, Australia, (Elsevier, Amsterdam, 1996)pp. 920-923 1996年

Optimization of Buried Well Structures in Dynamic Random Access Memories against Soft Error Using Probe Induced Current 

the Proc. of the 9h Intern. Conf. on Beam Modification of Materials 1995年

"Tip Surface Modification of Si Field Emitter Arrays" 

the Proc. of International Display Workshops'95 1995年