中野元博 (Motohiro Nakano) - マイポータル

基本情報

学位: 工学博士(大阪大学)

J-GLOBAL ID: 200901007179556696
researchmap会員ID: 1000030583

外部リンク: http://www-qm.prec.eng.osaka-u.ac.jp/

研究キーワード

研究分野

経歴

2020年4月 - 現在

大阪大学工学研究科物理学系専攻, 准教授
2007年4月 - 現在

大阪大学准教授
2007年 - 現在

大阪大学大学院工学研究科准教授
2007年4月 - 2020年3月

大阪大学工学研究科精密科学・応用物理学専攻, 准教授
1998年4月 - 2007年3月

大阪大学工学研究科精密科学・応用物理学専攻, 助教授
1992年2月 - 2007年3月

大阪大学助教授
1998年 - 2007年

大阪大学大学院工学研究科助教授
1992年 - 1998年

大阪大学工学部助教授
1990年10月 - 1992年1月

大阪大学講師
1990年 - 1992年

大阪大学工学部講師
1983年4月 - 1990年9月

大阪大学助手
1983年 - 1990年

大阪大学工学部助手
1980年4月 - 1983年3月

神戸製鋼所研究員
1980年 - 1983年

株式会社神戸製鋼所技術開発本部構造研究所研究員

学歴

委員歴

1990年 - 現在

日本航空宇宙学会, 1995-1997材料部門幹事
1988年 - 現在

日本材料学会, 2006編集委員会委員 1998-1999企画委員会委員

論文

Asymmetric MIM structure formation by PLD technique with metallic nitrides and its SPP excitation and waveguiding characteristics

Yasushi Oshikane, Motohiro Nakano, Hirotsugu Ogi

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 10731 2018年査読有り
High-accuracy three-dimensional aspheric mirror measurement with nanoprofiler based on normal vector tracing method

Ryota Kudo, Takao Kitayama, Yusuke Tokuta, Hiroki Shiraji, Motohiro Nakano, Kazuya Yamamura, Katsuyoshi Endo

Optics and Lasers in Engineering 98 159-162 2017年11月1日査読有り
紫外YAGレーザーを用いたパルスレーザー堆積法による窒化金属薄膜の生成とその光学的評価

押鐘寧, 中野元博, 村井健介

精密工学会学術講演会講演論文集 2017 103-104 2017年
3D surface measurement of spherical mirror by nanoprofiler using normal vector tracing method

H. Shiraji, Y. Tokuta, T. Kitayama, M. Nakano, R. Kudo, K. Yamamura, K. Endo

Proceedings of International Conference on X-ray Optics, Detectors, Sources, and their Applications 2016 37-38 2016年5月査読有り
表面プラズモンポラリトン励起のためのパルスレーザー堆積法による窒化チタン薄膜の形成

押鐘寧, 中野元博, 村井健介

精密工学会学術講演会講演論文集 2016 189-190 2016年
Simulation-based systematic error compensation for nanoprofiler using normal vector tracing method

R. Kudo, K. Okita, K. Okuda, Y. Tokuta, M. Nakano, K. Yamamura, K. Endo

Measurement 73 (2015) 473-479. 73 473-479 2015年6月査読有り
Simulation-based systematic error compensation for nanoprofiler using normal vector tracing method

R. Kudo, K. Okita, K. Okuda, Y. Tokuta, M. Nakano, K. Yamamura, K. Endo

Measurement 73 (2015) 473-479. 73 473-479 2015年6月査読有り
Self-calibration for optical path length of 3D nanoprofiler considering random error

Ryota Kudo, Kohei Okuda, Kenya Okita, Yusuke Tokuta, Shun Nakatani, Motohiro Nakano, Kazuya Yamamura, Katsuyoshi Endo

XXI IMEKO World Congress "Measurement in Research and Industry" 2015年
窒化チタン薄膜を金属層として利用した金属-誘電体-金属構造における表面プラズモンポラリトンの励起・伝搬特性

押鐘寧, 白石萌, 村井健介, 服部航, 中野元博

精密工学会学術講演会講演論文集 2015 321-322 2015年
The measurement of an aspherical mirror by three-dimensional nanoprofiler

Yusuke Tokuta, Kenya Okita, Kohei Okuda, Takao Kitayama, Motohiro Nakano, Shun Nakatani, Ryota Kudo, Kazuya Yamamura, Katsuyoshi Endo

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 9628 2015年査読有り
Systematic error analysis for 3D nanoprofiler tracing normal vector

Ryota Kudo, Yusuke Tokuta, Motohiro Nakano, Kazuya Yamamura, Katsuyoshi Endo

Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering 9633 2015年査読有り
Optical fiber tip with point light source of SPPs driven by three-dimensional nanostructured asymmetric metal-insulator-metal layer cap

Yasushi Oshikane, Kensuke Murai, Motohiro Nakano

PLASMONICS: METALLIC NANOSTRUCTURES AND THEIR OPTICAL PROPERTIES XIII 9547 2015年査読有り
Three-dimensional surface figure measurement of high-accuracy spherical mirror with nanoprofiler using normal vector tracing method

R. Kudo, K. Okuda, K. Usuki, M. Nakano, K. Yamamura, K. Endo

Review of Scientific Instruments 85(4) 2014年3月
3D-FEM analysis of SPP excitation through nanoholes in asymmetric metal-insulator-metal structure at tip of circular truncated conical fiber

Y. Oshikane, K. Murai, M. Nakano

PLASMONICS: METALLIC NANOSTRUCTURES AND THEIR OPTICAL PROPERTIES XII 9163 2014年査読有り
A new optical head tracing reflected light for nanoprofiler

K. Okuda, K. Okita, Y. Tokuta, T. Kitayama, M. Nakano, R. Kudo, K. Yamamura, K. Endo

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS V 9206 2014年査読有り
Systematic error analysis of nanoprofiler using normal vector tracing method based on numerical simulation

Ryota Kudo, Kohei Okuda, Kenya Okita, Yusuke Tokuta, Motohiro Nakano, Kazuya Yamamura, Kaysuyoshi Endo

Proceedings - ASPE/ASPEN Summer Topical Meeting: Manufacture and Metrology of Freeform and Off-Axis Aspheric Surfaces 126-131 2014年
Fabrication and Evaluation of Active Spectral Filter with Metal-Insulator-Metal Structure for Visible Light Communication

Kensuke Murai, Yasushi Oshikane, Fumihiko Yamamoto, Kou Hattori, Shoichi Mochizuki, Toshiyuki Mihara, Motohiro Nakano

PHOTONIC AND PHONONIC PROPERTIES OF ENGINEERED NANOSTRUCTURES IV 8994 2014年査読有り
Fabrication of plasmonic spectral filter for ubiquitous photonics (2)

Kensuke Murai, Yasushi Oshikane, Fumihiko Yamamoto, Motohiro Nakano

Optics InfoBase Conference Papers 2013年
法線ベクトル検出型超精密形状測定法の開発

小嶋拓也, 北山貴雄, 松村拓己, 薄木宏治, 沖田賢哉, 奥田晃平, 徳田有亮, 中野元博, 東保男, 遠藤勝義

精密工学会学術講演会講演論文集 2013 349-350 2013年
ガラス表面の金属/誘電体/金属(MIM)構造内部における表面プラズモンポラリトン(SPP)の励起と導波

押鐘寧, 村井健介, 山本史彦, 中野元博, 武藤正憲

精密工学会学術講演会講演論文集 2013 341-342 2013年