MISC

1999年

Study on Zr-Si/W(100) Surface at High Temperatures by Reflection High Energy Electron Diffraction. (共著)

Japanese Jpurnal of Applied Physics

巻: 38
号: 5A
開始ページ: 2951
終了ページ: 2952
DOI: 10.1143/JJAP.38.2951

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DOI: https://doi.org/10.1143/JJAP.38.2951
CiNii Articles: http://ci.nii.ac.jp/naid/110003907318

ID情報

DOI : 10.1143/JJAP.38.2951
ISSN : 0021-4922
ISSN : 1347-4065
CiNii Articles ID : 110003907318

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