1999年
Fualt Diagnosis Technology of CMOSLSI with Various Leakage Current Using IDDQ Phenomenon
IEICE Trans.D-1
- 巻
- J82-D-1
- 号
- 7
- 開始ページ
- 940
- 終了ページ
- 949
藤岡 弘
フジオカ ヒロム (Hiromu Fujioka)
更新日: 2022/09/13