浦野 俊夫

• 逆流型電離真空計（CFG) 

  2007年  
• LEED I-V曲線より構築されたパターソン関数による表面構造の再構成Ⅲ 

  2007年  
• X-ray Free Ionization Gauge 

  2007年  
• Cs/Si(100)表面のMDS・TDS・AESスペクトルの一貫性 

  2007年  
• X線を発生しない電離真空計Ⅲ 

  2007年  
• Surface Structure Analysis of Metal adsorbed Si(111) by Patterson Function with LEED I-V Curves 

  2007年  
• X-ray Free Ionization Gauge 

  2007年  
• Surface Structure Analysis of Metal adsorbed Si(111) by Patterson Function with LEED I-V Curves 

  2007年  
• Ｘ線を発生しない電離真空計Ⅲ 

  2006年  
• ＬＥＥＤ Ｉ－Ｖ曲線より構築されたパターソン関数による表面構造の再構成Ⅱ 

  2006年  
• X線を発生しない電離真空計Ⅱ 

  2006年  
• 大気曝露Ｃｓ吸着ナノダイヤモンド薄膜の電界電子放出特性 

  2005年  
• Ｘ線を発生しない電離真空計（II） 

  2005年  
• ＲＨＥＥＤによるＳｉ（１１１）面上のＦｅシリサイド薄膜の観察Ⅱ 

  2005年  
• ＬＥＥＤ Ｉ－Ｖ曲線より構築されたパターソン関数による表面構造の再構成 

  2005年  
• ＬＥＥＤによるＳｉ（００１）面上のＦｅ蒸着膜の観察 

  2005年  
• Ｘ線を発生しない電離真空計 

  2005年  
• Fe/Si（111)の低速電子線回折（LEED）パターンの観察と強度－エネルギー（ｌ－V）曲線の評価 

  真空 48,226-228 2005年  
• Cs吸着CVDダイヤモンド表面からの電界電子放出特性 

  2004年  
• Si(111)面上におけるFe吸着構造のLEED I-V曲線の解析 

  2004年  

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